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锦州阳光气象
数字式四探针测试仪是半导体材料的电阻性能测量设备。仪器由主机、测试台、四探针探头、计算机等部分组成，测量数据既可由主机直接显示，加以分析，然后以表格，图形方式统计分析显示测试结果。...
少子寿命测试仪配备有红外光源，可测量包括硅块、硅棒、硅芯、检磷棒、检硼棒、籽晶、硅片等的少子寿命及锗单晶的少子寿命...
PN级测试鉴别仪采用整流法和温差法来判断单晶（或多晶）硅的导电类型（N型或P型），显示屏直接显示导电类型。...
多角度激光椭偏仪使用632.8nm波长HeNe激光器，对测量薄膜厚度，折射率和吸收系数有非常出色的精度。仪器能够分析单层膜，多层膜和大块材料（基底）。...
该款硅片测厚仪采用机械接触式测量方式，严格符合标准要求，有效保证了测试的规范性和准确性。专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。...
